產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
RFID電子標(biāo)簽抗扭曲測試儀用于測試超高頻RFID電子標(biāo)簽的抗扭曲能力，完全滿足國家標(biāo)準(zhǔn)以及國家電網(wǎng)企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)對電子標(biāo)簽得抗扭曲的測試要求。
詳情介紹：
BBT-Q50RFID電子標(biāo)簽抗扭曲測試儀技術(shù)特點
2 采用7寸工業(yè)級觸摸屏控制，可視化操作界面，輕觸手指便可完成全部測試流程。
2 啟動測試后能自動完成試驗步驟。
BBT-Q50RFID電子標(biāo)簽抗扭曲測試儀主要技術(shù)參數(shù)
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顯示操作方式 |
觸摸屏操控 |
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卡槽工位個數(shù) |
5個 |
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旋轉(zhuǎn)角度 |
1°~ 90° |
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施加次數(shù) |
1~9999次 |
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間隔時間 |
1~9999 |
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扭曲速度 |
10~100 °/s（可更改） |
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特定功能 |
開機自動回位原點 異常情況自動回位原點 可即時暫停/繼續(xù)試驗進程 可即時中斷測試，并能自動回位原點 |
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